Используя простейшее маскирующее устройство для прикрытия всей пластины, за исключением площади локализации сравниваемых пятен, можно производить сравнение без отвлечения внимания (рис. 101).
Вернуться к оглавлению
Используя простейшее маскирующее устройство для прикрытия всей пластины, за исключением площади локализации сравниваемых пятен, можно производить сравнение без отвлечения внимания (рис. 101).
Вернуться к оглавлению